键公差的标注方法269

在机械零件加工中，为了保证键与键槽之间的配合精度，需要对键的尺寸进行公差标注。键公差的标注方法主要有两种：基本偏差制和极限偏差制。

基本偏差制

基本偏差制是用一个线性公差带表示键的公差。公差带的中心线即为基本偏差，记为e。基本偏差制的标注方法如下：

键宽：dk + ed

键高：hk + eh

其中，dk和hk分别为键的标称宽和高，ed和eh分别为键宽和键高的基本偏差。

基本偏差制中，基本偏差的符号为字母e，后跟一个数字，表示偏离标称尺寸的方向。例如，e12表示向负偏差方向偏离标称尺寸0.012mm。常见的键的基本偏差有e9、e12、e14、e16等。

极限偏差制

极限偏差制是用两个极限尺寸表示键的公差。极限偏差制的标注方法如下：

键宽：dk max和dk min

键高：hk max和hk min

其中，dk max和dk min分别为键宽的最大和最小极限尺寸，hk max和hk min分别为键高的最大和最小极限尺寸。

极限偏差制中，最大极限尺寸和最小极限尺寸分别用“max”和“min”表示。例如，dk max表示键宽的最大极限尺寸，hk min表示键高的最小极限尺寸。

键公差标注的原则

键公差标注的原则如下：
满足装配要求：键的公差应保证键与键槽之间的配合精度，满足装配要求。
经济合理：键的公差应经济合理，既能保证装配精度，又能降低加工成本。
易于理解：键公差的标注方法应易于理解，便于加工和检验。

键公差的配合

键与键槽之间的配合可以分为松配合、过渡配合和紧配合。松配合是指键与键槽之间的间隙较大，过渡配合是指键与键槽之间的间隙适中，紧配合是指键与键槽之间的间隙很小。

不同配合类型的键公差标注方法也不同。例如，松配合的键可以采用基本偏差制，过渡配合的键可以采用极限偏差制，紧配合的键需要采用更严格的公差标注方法。

键公差的检验

键公差的检验可以通过以下方法进行：
千分尺或游标卡尺：测量键的宽和高。
塞规：测量键槽的宽和高。
光学投影仪：测量键的形状和尺寸。

通过对键公差的检验，可以判断键是否符合图纸要求，是否能满足装配要求。

2025-01-08

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